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題名 全球半導體封裝測試產業研發效率與獲利效率及其影響因子分析
An analysis of impact factor of R&D and profitability efficiency for global semiconductor assembly and testing industry作者 陳柏宇
Chen, Po Yu貢獻者 許牧彥
陳柏宇
Chen, Po Yu關鍵詞 封裝測試產業
資料包絡分析
獲利效率
研發效率
Tobit迴歸
Semiconductor assembly and testing industry
Profitability efficiency
R&D efficiency
DEA
Tobit regression日期 2017 上傳時間 13-Sep-2017 15:50:24 (UTC+8) 摘要 近年半導體封裝產業發生多起併購案件，令人不禁好奇該產業發生之變化及對未來之影響。本研究針對全球半導體封測產業市場佔有率前十名之廠商，以包絡分析法進行CCR模式及BCC模式之研發效率及獲利效率。第一階段研究2012~2014年目標廠商之研發資源運用效率，投入項為研發費用及知識存量(加權累積專利數)，產出項為專利權數量；第二階段研究2014~2016年目標廠商之獲利效率，投入項為專利資本及銷售與管理費用，產出項為營業毛利。分析完個別之研發效率及獲利效率後，再將兩者以Pearson相關性分析檢測其相關係數，證實研發效率與獲利效率僅有低度相關。此外為探討日月光及矽品兩企業併購案，本研究將該兩家廠商之投入產出項合併進行另一次DEA包絡分析。研究結果發現整體產業呈現有效率狀態，以平均整體效率而言，研發效率及獲利效率皆達0.7。另外BCC模式下之技術效率表現更佳，惟規模效率部分表現較差，研究發現中度規模廠商(市佔率排名6至10之廠商)多處於規模報酬遞增的狀態，而規模程度高之廠商(如日月光、Amkor)則為規模報酬遞減之狀態。因此研究推論大者恆大之現象確實存在，然規模太大之廠商可能反而出現資源分配不均、整合程度不足等因素所造成的規模無效率。再以Tobit迴歸分析尋找影響效率因子，證實規模對於無論研發或是獲利效率均無顯著影響，研發效率的顯著因子有申請專利變動幅度，說明企業應有效規畫管理研發產出；獲利效率顯著因子包含直接生產力與銷管能力，證實成本控制為該產業獲利效率的重點因素。最後，本研究希望根據實證結果分析給予產業界及學界之未來研究建議。
Recently, many merger and acquisition cases have occurred between the enterprises of the semiconductor assembly and testing industry. To imply about how it happened and how will it influence the whole industry,this thesis present a study which utilizes the input oriented CCR model and BCC model of two-stage Data Envelopment Analysis (DEA), which separates R&D efficiency and profitability efficiency to evaluate the performance for the global semiconductor assembly and testing industry. The research targets are enterprises which included in top-10 market share in the industry. Research period of the first stage and second stage respectively is during 2012 to 2014 and 2014 to 2016. In order to deal with the result of DEA, this study takes the Pearson correlation analysis to find relationships between the R&D efficiency and the profitability efficiency. In the R&D efficiency, it take R&D expenses and accumulated patents number as input; while take the number of new patents as output. In the profitability efficiency, it take patent capital and operating expenses as input; while take the operating margin as output. Through the BCC mode DEA, this study finds that most enterprises are efficiently in the technical efficiency part. However, the scale efficiency are worse. Those medium scale enterprises are in the” increasing returns to scale” mode, while the high scale enterprises are in the” decreasing returns to scale” mode. It confirmed that the trend of “The powerful are always powerful”, while those high scale enterprises might suffered in the problem of lake of integration. Finally, we hope the results can provide actual suggestions for both the industry and future research.參考文獻 英文文獻Baker, N., and James Freeland. (1975). Recent advances in R&D benefit measurement and project selection methods. Management science, 21.10 1164-1175. Brown, M. G., and Raynold A. Svenson. (1988). Measuring r&d productivity Research-Technology Management, 31.4 11-15. Fanelli, H. a. (2002). Action and possibility: Reconciling dual perspectives of knowledge in organizations. Organization Science, 13(3)(290-302). Hoang, H. A., and Frank T. Rothaermel. (2010). Leveraging internal and external experience: exploration, exploitation, and R&D project performance. Strategic Management Journal, 31.7 734-758. Kim, B., and Heungshik Oh. (2002). Economic Compensation Compositions Preferred by R&D Personnel of Different R&D Typed and Intrinsic Values. R&D Management(32(1)), 47-59. Nelson, R. R. (1982). The role of knowledge in R&D efficiency. The quarterly journal of economics, 97.3, 453-470. Roll, G. B. a. Y. (1989). An Application Procedure for DEA. Omega 1(3), 237-250. Rubenstein, A. H., and Eliezer Geisler. (1991). Evaluating the outputs and impacts of R&D/innovation. International Journal of Technology Management 6.3 181-204. Scherer, F. M. (1965). Firm size, market structure, opportunity, and the output of patented inventionsAPA The American Economic Review, 55.5 1097-1125. Schumpter, J. A. (1942). Capitalism, Socialism, and Democracy. New York: Harper and Brothers.Werner, B. M., and William E. Souder. (1997). Measuring R&D performance—state of the art. Research-Technology Management, 40.2 34-42. Zvi Griliches, A. P., Bronwyn H.Hall. (1986). The value of patent as inoicators of inventive activity. Working Paper, 2083. 中文文獻王永達. (2010). 台灣LED產業研發效率與獲利效率及其影響因子分析. (碩士), 國立政治大學, 台北. 王廷基、麥偉基、黃婷婷、王俊堯、張克正. (2010). 在 System-in-Package 設計下之自動化工具研發總計畫研究成果報告. Retrieved from 行政院國家科學委員會: 王凱平. (2003). 銀行產業經營效率與生產力分析. (碩士), 國立政治大學, 台北市. (91258010)吳佳瑋. (2005). 研發投入與產出對於企業經營績效之遞延效果－以我國電子業上市上櫃公司為例. (碩士), 政治大學. 吳淑美. (2016). 由封測大廠併購事件 看兩岸半導體產業競合態勢. 證券服務, 648, 85-88.吳濟華、何柏正. (2008). 組織效率與生產力評估:資料包絡分析法. 台北縣: 前程文化事業有限公司.呂正欽、高淩菁、傅新彬. (2016). 應用ICA與DEA方法評估半導體產業封測領域公司經營績效-以台灣中型半導體封測廠為例. 中山管理評論, 503-530. doi:10.6160/2016.09.03李揚、鐘棠祺. (2015). 半導體產業之績效評估-跨國分析與比較. 東吳經紀商學學報, 61-88. 邱垂昌、王育民、魏嘉伶、張簡婷. (2011). 創新、人力資本投入與企業經營效率-以我國IC設計業為例. 中山管理評論, 343-385. 高強;黃旭男;末吉俊幸. (2003). 管理績效評估:資料包絡分析法. 台北市: 華泰文化事業公司出版.黃建雄. (2008). 台灣半導體產業研發效率與研發獲利能力之分析-以IC產業為例. (碩士論文), 真理大學. 楊美蘭. (2005). 台灣IC設計業研發效率與影響因子分析. (碩士), 國立政治大學. 蔡榮發、張淑娟、張原嘉. (2016). 台灣上市半導體公司經營績效評估與分析. 創新與管理, 26. 簡菁凡. (2005). 專利指標對台灣半導體產業創新研發績效之影響. (碩士), 開南管理學院. 李東杰、鄭雅云、薛金愛. (2011). 上市、櫃及公開發行之太陽能廠商的績效與影響因素分析. 南台學報, 第 36 卷第 4 期, 47—62. 謝榮明. (2006). 台灣TFT-LCD大尺寸液晶面板廠商研發效率與影響因子分析. (碩士), 國立政治大學. 描述 碩士
國立政治大學
科技管理與智慧財產研究所
104364117資料來源 http://thesis.lib.nccu.edu.tw/record/#G0104364117 資料類型 thesis dc.contributor.advisor 許牧彥 zh_TW dc.contributor.author (Authors) 陳柏宇 zh_TW dc.contributor.author (Authors) Chen, Po Yu en_US dc.creator (作者) 陳柏宇 zh_TW dc.creator (作者) Chen, Po Yu en_US dc.date (日期) 2017 en_US dc.date.accessioned 13-Sep-2017 15:50:24 (UTC+8) - dc.date.available 13-Sep-2017 15:50:24 (UTC+8) - dc.date.issued (上傳時間) 13-Sep-2017 15:50:24 (UTC+8) - dc.identifier (Other Identifiers) G0104364117 en_US dc.identifier.uri (URI) http://nccur.lib.nccu.edu.tw/handle/140.119/112810 - dc.description (描述) 碩士 zh_TW dc.description (描述) 國立政治大學 zh_TW dc.description (描述) 科技管理與智慧財產研究所 zh_TW dc.description (描述) 104364117 zh_TW dc.description.abstract (摘要) 近年半導體封裝產業發生多起併購案件，令人不禁好奇該產業發生之變化及對未來之影響。本研究針對全球半導體封測產業市場佔有率前十名之廠商，以包絡分析法進行CCR模式及BCC模式之研發效率及獲利效率。第一階段研究2012~2014年目標廠商之研發資源運用效率，投入項為研發費用及知識存量(加權累積專利數)，產出項為專利權數量；第二階段研究2014~2016年目標廠商之獲利效率，投入項為專利資本及銷售與管理費用，產出項為營業毛利。分析完個別之研發效率及獲利效率後，再將兩者以Pearson相關性分析檢測其相關係數，證實研發效率與獲利效率僅有低度相關。此外為探討日月光及矽品兩企業併購案，本研究將該兩家廠商之投入產出項合併進行另一次DEA包絡分析。研究結果發現整體產業呈現有效率狀態，以平均整體效率而言，研發效率及獲利效率皆達0.7。另外BCC模式下之技術效率表現更佳，惟規模效率部分表現較差，研究發現中度規模廠商(市佔率排名6至10之廠商)多處於規模報酬遞增的狀態，而規模程度高之廠商(如日月光、Amkor)則為規模報酬遞減之狀態。因此研究推論大者恆大之現象確實存在，然規模太大之廠商可能反而出現資源分配不均、整合程度不足等因素所造成的規模無效率。再以Tobit迴歸分析尋找影響效率因子，證實規模對於無論研發或是獲利效率均無顯著影響，研發效率的顯著因子有申請專利變動幅度，說明企業應有效規畫管理研發產出；獲利效率顯著因子包含直接生產力與銷管能力，證實成本控制為該產業獲利效率的重點因素。最後，本研究希望根據實證結果分析給予產業界及學界之未來研究建議。 zh_TW dc.description.abstract (摘要) Recently, many merger and acquisition cases have occurred between the enterprises of the semiconductor assembly and testing industry. To imply about how it happened and how will it influence the whole industry,this thesis present a study which utilizes the input oriented CCR model and BCC model of two-stage Data Envelopment Analysis (DEA), which separates R&D efficiency and profitability efficiency to evaluate the performance for the global semiconductor assembly and testing industry. The research targets are enterprises which included in top-10 market share in the industry. Research period of the first stage and second stage respectively is during 2012 to 2014 and 2014 to 2016. In order to deal with the result of DEA, this study takes the Pearson correlation analysis to find relationships between the R&D efficiency and the profitability efficiency. In the R&D efficiency, it take R&D expenses and accumulated patents number as input; while take the number of new patents as output. In the profitability efficiency, it take patent capital and operating expenses as input; while take the operating margin as output. Through the BCC mode DEA, this study finds that most enterprises are efficiently in the technical efficiency part. However, the scale efficiency are worse. Those medium scale enterprises are in the” increasing returns to scale” mode, while the high scale enterprises are in the” decreasing returns to scale” mode. It confirmed that the trend of “The powerful are always powerful”, while those high scale enterprises might suffered in the problem of lake of integration. Finally, we hope the results can provide actual suggestions for both the industry and future research. en_US dc.description.tableofcontents 第一章 緒論 1第一節 研究背景與動機 1第二節 研究目的與問題 2第三節 研究方法 3第四節 章節安排 3第二章 產業概況 6第一節 半導體產業鏈 6第二節 封裝及測試產業簡介 8第三節 封裝產業併購影響 10第三章 文獻探討 12第一節 研究發展之定義 12第二節 研究發展之特性 13第三節 研發效率 14第四章 研究方法 18第一節 研究架構 18第二節 資料包絡分析法介紹 18第三節 資料包絡分析法之操作 27第四節 分析模式 35第五節 分析軟體 36第六節 研究假說 36第七節 Tobit資料切齊迴歸模型分析與效率影響因子 38第八節 研究限制 42第五章 實證結果分析 44第一節 資料說明 44第二節 評估前分析 46第三節 效率分析 52第四節 影響因子分析 68第五節 規模效率之變化 71第六章 結論與建議 73第一節 結論 73第二節 建議 74附錄一 日月光矽品併購案大事記 80附錄二 DEA之投入產出數據資料 84附錄三 Tobit迴歸分析數據資料 86 zh_TW dc.format.extent 1712259 bytes - dc.format.mimetype application/pdf - dc.source.uri (資料來源) http://thesis.lib.nccu.edu.tw/record/#G0104364117 en_US dc.subject (關鍵詞) 封裝測試產業 zh_TW dc.subject (關鍵詞) 資料包絡分析 zh_TW dc.subject (關鍵詞) 獲利效率 zh_TW dc.subject (關鍵詞) 研發效率 zh_TW dc.subject (關鍵詞) Tobit迴歸 zh_TW dc.subject (關鍵詞) Semiconductor assembly and testing industry en_US dc.subject (關鍵詞) Profitability efficiency en_US dc.subject (關鍵詞) R&D efficiency en_US dc.subject (關鍵詞) DEA en_US dc.subject (關鍵詞) Tobit regression en_US dc.title (題名) 全球半導體封裝測試產業研發效率與獲利效率及其影響因子分析 zh_TW dc.title (題名) An analysis of impact factor of R&D and profitability efficiency for global semiconductor assembly and testing industry en_US dc.type (資料類型) thesis en_US dc.relation.reference (參考文獻) 英文文獻Baker, N., and James Freeland. (1975). Recent advances in R&D benefit measurement and project selection methods. Management science, 21.10 1164-1175. Brown, M. G., and Raynold A. Svenson. (1988). Measuring r&d productivity Research-Technology Management, 31.4 11-15. Fanelli, H. a. (2002). Action and possibility: Reconciling dual perspectives of knowledge in organizations. Organization Science, 13(3)(290-302). Hoang, H. A., and Frank T. Rothaermel. (2010). Leveraging internal and external experience: exploration, exploitation, and R&D project performance. Strategic Management Journal, 31.7 734-758. Kim, B., and Heungshik Oh. (2002). Economic Compensation Compositions Preferred by R&D Personnel of Different R&D Typed and Intrinsic Values. R&D Management(32(1)), 47-59. Nelson, R. R. (1982). The role of knowledge in R&D efficiency. The quarterly journal of economics, 97.3, 453-470. Roll, G. B. a. Y. (1989). An Application Procedure for DEA. Omega 1(3), 237-250. Rubenstein, A. H., and Eliezer Geisler. (1991). Evaluating the outputs and impacts of R&D/innovation. International Journal of Technology Management 6.3 181-204. Scherer, F. M. (1965). Firm size, market structure, opportunity, and the output of patented inventionsAPA The American Economic Review, 55.5 1097-1125. Schumpter, J. A. (1942). Capitalism, Socialism, and Democracy. New York: Harper and Brothers.Werner, B. M., and William E. Souder. (1997). Measuring R&D performance—state of the art. Research-Technology Management, 40.2 34-42. Zvi Griliches, A. P., Bronwyn H.Hall. (1986). The value of patent as inoicators of inventive activity. Working Paper, 2083. 中文文獻王永達. (2010). 台灣LED產業研發效率與獲利效率及其影響因子分析. (碩士), 國立政治大學, 台北. 王廷基、麥偉基、黃婷婷、王俊堯、張克正. (2010). 在 System-in-Package 設計下之自動化工具研發總計畫研究成果報告. Retrieved from 行政院國家科學委員會: 王凱平. (2003). 銀行產業經營效率與生產力分析. (碩士), 國立政治大學, 台北市. (91258010)吳佳瑋. (2005). 研發投入與產出對於企業經營績效之遞延效果－以我國電子業上市上櫃公司為例. (碩士), 政治大學. 吳淑美. (2016). 由封測大廠併購事件 看兩岸半導體產業競合態勢. 證券服務, 648, 85-88.吳濟華、何柏正. (2008). 組織效率與生產力評估:資料包絡分析法. 台北縣: 前程文化事業有限公司.呂正欽、高淩菁、傅新彬. (2016). 應用ICA與DEA方法評估半導體產業封測領域公司經營績效-以台灣中型半導體封測廠為例. 中山管理評論, 503-530. doi:10.6160/2016.09.03李揚、鐘棠祺. (2015). 半導體產業之績效評估-跨國分析與比較. 東吳經紀商學學報, 61-88. 邱垂昌、王育民、魏嘉伶、張簡婷. (2011). 創新、人力資本投入與企業經營效率-以我國IC設計業為例. 中山管理評論, 343-385. 高強;黃旭男;末吉俊幸. (2003). 管理績效評估:資料包絡分析法. 台北市: 華泰文化事業公司出版.黃建雄. (2008). 台灣半導體產業研發效率與研發獲利能力之分析-以IC產業為例. (碩士論文), 真理大學. 楊美蘭. (2005). 台灣IC設計業研發效率與影響因子分析. (碩士), 國立政治大學. 蔡榮發、張淑娟、張原嘉. (2016). 台灣上市半導體公司經營績效評估與分析. 創新與管理, 26. 簡菁凡. (2005). 專利指標對台灣半導體產業創新研發績效之影響. (碩士), 開南管理學院. 李東杰、鄭雅云、薛金愛. (2011). 上市、櫃及公開發行之太陽能廠商的績效與影響因素分析. 南台學報, 第 36 卷第 4 期, 47—62. 謝榮明. (2006). 台灣TFT-LCD大尺寸液晶面板廠商研發效率與影響因子分析. (碩士), 國立政治大學. zh_TW
