| dc.contributor.advisor | 余民寧<br>林邦傑 | zh_TW |
| dc.contributor.author (Authors) | 林曉芳 | zh_TW |
| dc.creator (作者) | 林曉芳 | zh_TW |
| dc.date (日期) | 2001 | en_US |
| dc.date.accessioned | 18-Sep-2009 18:21:59 (UTC+8) | - |
| dc.date.available | 18-Sep-2009 18:21:59 (UTC+8) | - |
| dc.date.issued (上傳時間) | 18-Sep-2009 18:21:59 (UTC+8) | - |
| dc.identifier (Other Identifiers) | G91NCCU3492012 | en_US |
| dc.identifier.uri (URI) | https://nccur.lib.nccu.edu.tw/handle/140.119/36349 | - |
| dc.description (描述) | 博士 | zh_TW |
| dc.description (描述) | 國立政治大學 | zh_TW |
| dc.description (描述) | 教育研究所 | zh_TW |
| dc.description (描述) | 88152511 | zh_TW |
| dc.description (描述) | 90 | zh_TW |
| dc.description.abstract (摘要) | 本研究之目的旨在探討成就測驗中，學生的不完整作答反應是否能利用插補法，對不完整作答反應資料進行彌補。研究者藉由試題參數與受試者能力參數的分析討論，期望能獲得支持插補技術應用於成就測驗的結論。研究欲探討的問題有三：（一）利用統計插補法所估算之替代值與實際作答反應之間是否有差異存在；（二）受試者之部分答題反應組型在經過插補後，與完全作答反應組型之分析結果是否有差異存在；（三）能否將統計插補技術應用於成就測驗模式中。 本研究程序包含兩部分，一為模擬資料（N=1000，3000，5000，l0000；缺失比例為5%，10%，15%，30%，50%）的分析，模擬研究主要作為實證研究結果的驗證與推論；另一個則為實證資料的分析與討論。針對不完整作答反應，基於IRT的強假設前提，以及成就測驗作答反應的資料型態，研究者選擇熱卡插補法(HOt Deck imputation method)的統計插補技術，分別對於實證資料與模擬資料中之各類樣本數，與不同缺失比率下的作答反應作插補。另又以EM插補法作對照分析。 根據研究結果與討論，提出以下幾點歸納結論：（一）當缺失比例不大時，能符合原本的資料分佈假設，但隨著缺失比例愈高，高至30%以上時，已漸不符合原本假設；（二）當缺失比例愈高時，各項參數之估計標準差值幾乎是最大的；若忽略未作答反應之受試者的表現時，其分析所得的參數估計值亦並未是最佳的，反而是將所有受試者的作答反應進行插補估計後，所得的參數估計標準差值才是最小、最佳的；（三）本研究中，主要以熱卡法為插補方法，而EM插補法並不符合本研究資料之性質，故若採用此法進行插補，則所得的估計標準差會是最大的；（四）經過模擬研究與實證資料的分析後，證明熱卡法所推估的未作答反應，與直接刪除未作答反應或不處理未作答反應的確有差異存在，且經過插補所產生的替代值，對於受試者的能力表現能提供更穩定有效的解釋力。 關鍵詞：熱卡插補法、不完整作答反應、成就測驗 | zh_TW |
| dc.description.abstract (摘要) | This purpose of this study is to infer the feasibility if examinees` non response could be made up, by using imputation method in non response or missing value of achievement test. The research design contains two procedures: one is simulation research (setting sample sizes are 1000, 3000, 5000, and 10000; percents of non response are 5%, 10%, 15%, 30%, and 50%), and the other is pragmatic research. Hot deck imputation method is the main concern method in this research. To test if this method fits to achievement test, EM method is used for comparison with the Hot deck imputation method. The results are as follows: 1. The distribution of below 30% percent non response data after imputated is the same as the original data, but following the higher percents of non response, the distribution is not match what we expected. 2. Applying Hot Deck imputation method to the achievement test with different sample size and different percents of non response, the researcher found that following the higher percents of non response in any sample size, the higher standard deviation happened. Besides, ignoring or deleting these non responses is not a good way to deal with this test response pattern. Imputating an appropriate answer for the non response by Hot Deck imputation method, we could get the least standard deviation of the test and ability parameters estimation, and get largest test information for examinees. 3. We found the Hot Deck imputation method is suitable for the data pattern of achievement test than EM method. There are different outcomes between Hot deck imputation method and EM method. Hot Deck imputation method also has accuracy parameter estimation. 4. Based on above discussions, this study suggested that Hot deck imputation method could cope with non response in achievement test pretty well. Key Words: Hot Deck imputation method, Non response, Achievement test | en_US |
| dc.description.tableofcontents | 第一章 緒論-----1 第一節 研究動機-----1 第二節 研究目的-----4 第三節 待答問題-----5 第四節 研究限制-----6 第二章 文獻探討-----8 第一節 古典測驗理論-----8 第二節 試題反應理論-----13 第三節 不完整作答反應之相關研究-----32 第四節 成就測驗對於無反應作答之相關研究與討論-----54 第三章 研究方法-----64 第一節 研究架構與實施程序-----64 第二節 研究樣本-----69 第三節 研究工具-----74 第四節 資料處理-----81 第四章 研究結果與討論-----83 第一節 成就測驗資料型態的檢定-----83 第二節 模擬資料中各缺失樣本的差異考驗討論-----97 第三節 插補資料與原始資料間的差異考驗-----134 第四節 在不同缺失比率下熱卡法估計試題參數之結果-----141 第五節 在不同缺失比率下熱卡法估計能力參數之結果-----151 第五章 結論與建議-----155 第一節 結論-----155 第二節 建議-----158 參考文獻-----161 附錄-----166 附錄一 正式施測測驗-----166 附錄二 程式-----171 附錄三 受試者能力值之估計結果（Hot Deck插補法，實證資料）-----175 圖目次 圖2-1 單向度假定圖與非單向度假定圖-----18 圖2-2 三參數模式之試題特徵曲線-----22 圖2-3 迴歸插補法的圖例-----41 圖2-4 熱卡插補法的基本架構-----48 圖3-1 本研究之架構圖-----65 圖3-2 試卷定錨試題編纂方式-----77 圖4-1 n=1000之試題均勻分配檢定（完整資料，以第一題為例）-----86 圖4-2 n=3000之試題均勻分配檢定（50%Missing，以第一題為例）-----86 圖4-3 n=3000之試題均勻分配檢定（完整資料，以第一題為例）-----86 圖4-4 n=3000之試題均勻分配檢定（50%Missing，以第一題為例）-----86 圖4-5 n=5000之試題均勻分配檢定（完整資料，以第一題為例）-----86 圖4-6 n=5000之試題均勻分配檢定（50%Missing，以第一題為例）-----86 圖4-7 n=10000之試題均勻分配檢定（完整資料，以第一題為例）-----87 圖4-8 n=100O0之試題均勻分配檢定（50%Missing，以第一題為例）-----87 圖4-9 第12題的均勻分配檢定-----88 圖4-10 第38題的均勻分配檢定-----88 圖4-11 作答完整資料之能力參數檢定(N=1000)-----89 圖4-12 缺失5%資料之能力參數檢定(N=1000)-----89 圖4-13 缺失10%資料之能力參數檢定(N=1000)-----90 圖4-14 缺失15%資料之能力參數檢定(N=1000)-----90 圖4-15 缺失30%資料之能力參數檢定(N=1000)-----90 圖4-16 缺失50%資料之能力參數檢定(N=1000)-----90 圖4-17 作答完整資料之能力參數檢定(N=3000)-----91 圖4-18 缺失5%資料之能力參數檢定(N=3000)-----91 圖4-19 缺失10%資料之能力參數檢定(N=3000)-----91 圖4-20 缺失15%資料之能力參數檢定(N=3000)-----91 圖4-21 缺失30%資料之能力參數檢定(N=3000)-----91 圖4-22 缺失50%資料之能力參數檢定(N=30O0)-----91 圖4-23 作答完整資料之能力參數檢定(N=5000)-----92 圖4-24 缺失5%資料之能力參數檢定(N=5000)-----92 圖4-25 缺失10%資料之能力參數檢定(N=5000)-----92 圖4-26 缺失15%資料之能力參數檢定(N=5000)-----92 圖4-27 缺失30%資料之能力參數檢定(N=5000)-----93 圖4-28 缺失50%資料之能力參數檢定(N=5000)-----93 圖4-29 作答完整資料之能力參數檢定(N=10000)-----93 圖4-30 缺失5%資料之能力參數檢定(N=10000)-----93 圖4-31 缺失10%資料之能力參數檢定N=10000)-----94 圖4-32 缺失15%資料之能力參數檢定(N=10000)-----94 圖4-33 缺失30%資料之能力參數檢定(N=10000)-----94 圖4-34 缺失50%資料之能力參數檢定(N=10000)-----94 圖4-35 原始資料下所估計之能力值分配-----95 圖4-36 全部作答受試者之能力值分配-----95 圖4-37 miss5%經熱卡插補後之能力值分配-----96 圖4-38 miss10%經熱卡插補後之能力值分配-----96 圖4-39 miss15%經熱卡插補後之能力值分配-----96 圖4-40 經熱卡插補後估計之能力值分配-----96 表目次 表2-1 鑑別度的評鑑標準-----13 表2-2 試題反應理論之相關代表性文獻資料-----14 表2-3 一般常用單向度模式之摘要-----19 表3-1 本研究之預試學校與學生數統計表-----69 表3-2 接受正式測驗之學校及受試學生人數統計表-----70 表3-3 缺失作答反應統計表-----71 表3-4 試題作答反應統計表-----73 表3-5 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（甲卷）-----74 表3-6 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（乙卷）-----74 表3-7 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（丙卷）-----75 表3-8 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（丁卷）-----75 表3-9 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（戊卷）-----75 表3-10 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（己卷）-----75 表3-11 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（庚卷）-----76 表3-12 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（辛卷）-----76 表3-13 試題診斷分析表-----78 表3-14 新編擬測驗卷之試題參數/指數摘要-----79 表3-15 國中一年級第一冊數學科成就測驗雙向細目分析表（正式施測用）-----80 表4-1 不同缺失比率所估計的試題鑑別參數與標準差(n=1000)-----98 表4-2 不同缺失比率所估計之鑑別參數的描述統計(n=1000)-----99 表4-3 不同缺失比率所估計之鑑別參數標準差的描述統計(n=1000)-----99 表4-4 不同缺失比率所估計的試題鑑別參數與標準差(n=3000)-----101 表4-5 不同缺失比率所估計之鑑別參數的描述統計(n=3000)-----102 表4-6 不同缺失比率所估計之鑑別參數標準差的描述統計(n=3000)-----102 表4-7 不同缺失比率所估計的試題鑑別參數與標準差(n=5000)-----104 表4-8 不同缺失比率所估計之鑑別參數的描述統計(n=5000)-----105 表4-9 不同缺失比率所估計之鑑別參數標準差的描述統計(n=5000)-----105 表4-10 不同缺失比率所估計的試題鑑別參數與標準差(n=10000)-----107 表4-11 不同缺失比率所估計之鑑別參數的描述統計(n=10000)-----108 表4-12 不同缺失比率所估計之鑑別參數標準差描述統計(n=10000)-----108 表4-13 不同缺失比率所估計的試題難度參數與標準差(n=1000)-----110 表4-14 不同缺失比率所估計之難度參數的描述統計(n=1000)-----111 表4-15 不同缺失比率所估計之難度參數標準差的描述統計(n=1000)-----111 表4-16 不同缺失比率所估計的試題難度參數與標準差(n=3000)-----113 表4-17 不同缺失比率所估計之難度參數的描述統計(n=3000)-----114 表4-18 不同缺失比率所估計之難度參數標準差的描述統計(n=3000)-----114 表4-19 不同缺失比率所估計的試題難度參數與標準差(n=5000)-----116 表4-20 不同缺失比率所估計之難度參數的描述統計(n=5000)-----117 表4-21 不同缺失比率所估計之難度參數標準差的描述統計(n=5000)-----117 表4-22 不同缺失比率所估計的試題難度參數與標準差(n=10000)-----119 表4-23 不同缺失比率所估計之難度參數的描述統計(n=10000)-----120 表4-24 不同缺失比率所估計之難度參數標準差描述統計(n=10000)-----120 表4-25 不同缺失比率所估計的試題能力參數與標準差(n=1000)-----122 表4-26 不同缺失比率所估計之能力參數的描述統計(n=1000)-----123 表4-27 不同缺失比率所估計之能力參數標準差的描述統計(n=1000)-----123 表4-28 不同缺失比率所估計的試題能力參數與標準差(n=3000)-----125 表4-29 不同缺失比率所估計之能力參數的描述統計(n=3000)-----126 表4-30 不同缺失比率所估計之能力參數標準差的描述統計(n=3000)-----126 表4-31 不同缺失比率所估計的試題能力參數與標準差(n=5000)-----128 表4-32 不同缺失比率所估計之能力參數的描述統計(n=5000)-----129 表4-33 不同缺失比率所估計之能力參數標準差的描述統計(n=5000)-----129 表4-34 不同缺失比率所估計的試題能力參數與標準差(n=10000)-----131 表4-35 不同缺失比率所估計之能力參數的描述統計(n=10000)-----132 表4-36 不同缺失比率所估計之能力參數標準差描述統計(n=10000)-----132 表4-37 原始作答反應與熱卡插補後之符號考驗-----135 表4-38 原始作答反應與缺失5%作答反應經熱卡插補後之符號考驗-----136 表4-39 原始作答反應與缺失10%作答反應經熱卡插補後之符號考驗-----137 表4-40 原始作答反應與缺失15%作答反應經熱卡插補後之符號考驗-----138 表4-41 原始作答反應與完整作答反之符號考驗結果-----140 表4-42 實證作答反應與不同比率之熱卡插補後的試題鑑別參數-----143 表4-43 實證作答反應與不同比率之熱卡插補後的試題鑑別參數誤差-----144 表4-44 實證資料與熱卡插補估計後之鑑別度參數的描述統計-----145 表4-45 實證作答反應與不同比率之熱卡插補後的試題鑑別參數誤差統計表-----145 表4-46 實證作答反應與不同比率之熱卡插補後的試題難度參數-----148 表4-47 實證作答反應與不同比率之熱卡插補後的試題難度參數誤差-----149 表4-48 實證資料與熱卡插補估計後之難度參數的描述統計-----150 表4-49 實證作答反應與不同比率之熱卡插補後的試題難度參數誤差統計表-----150 表4-50 原始作答反應與在各種插補方法下，受試者能力值之估計-----152 表4-51 原始資料與插補估計後之能力參數的描述統計-----153 | zh_TW |
| dc.language.iso | en_US | - |
| dc.source.uri (資料來源) | http://thesis.lib.nccu.edu.tw/record/#G91NCCU3492012 | en_US |
| dc.subject (關鍵詞) | 熱卡插補法 | zh_TW |
| dc.subject (關鍵詞) | 不完整作答反應 | zh_TW |
| dc.subject (關鍵詞) | 成就測驗 | zh_TW |
| dc.subject (關鍵詞) | Hot deck imputation method | en_US |
| dc.subject (關鍵詞) | Non response | en_US |
| dc.subject (關鍵詞) | Achievement test | en_US |
| dc.title (題名) | 以Hot deck插補法推估成就測驗之不完整作答反應 | zh_TW |
| dc.title (題名) | Inferring feasibility in non response of achievement test by using hot deck imputation method | en_US |
| dc.type (資料類型) | thesis | en |
