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題名 半導體業生產績效作業層面影響因素之實地實證研究
作者 龔志忠
Kung, Chih-Chung
貢獻者 吳安妮
Ann Wu
龔志忠
Kung, Chih-Chung
關鍵詞 生產績效
晶圓製造
作業制成本制
半導體產業
manufacturing performance
wafer production
activity based costing
semiconductor
日期 2001
上傳時間 15-Apr-2016 16:11:05 (UTC+8)
摘要 對晶圓代工產業而言：生產的彈性及穩定的高良率是競爭優勢之所在，為維持這兩項核心能力，企業必須持續改進製程以提高生產績效。Vadgama, Trybula (1996)曾對晶圓廠生產績效之改善提出建議方案：作者認為將模型工具與作業制成本制整合的管理方式，可辨認出對生產績效具有重大影響的生產區域，再以作業分析找出影響因素並提出相對應的解決方案，進而達到持續改善的目標。
參考文獻 一、中文部份
中華開發工業銀行，2000，2000年重點產業景氣預測（Π）：72-79.。
史帝文生（Stevenson, W. J.），1999，生產管理，傅和彥譯，台北：前程企業管理有限公司。
李惠娟，2000，半導體產業設備產能使用效率影響因素之實證研究，國立政治大學會計研究所未出版碩士論文。
周文賢，多變量統計分析：SAS/STAT使用方法，待出版書稿。
科普朗與庫柏（Kaplan, R. S., and R. Cooper），2000，成本與效應：以整合性成本制度提昇獲利與績效，徐曉慧譯，台北：臉譜。
黃俊穎，1999，晶圓製造廠因應產品組合更動之快速生產規劃機制，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
簡煌煜，1997，產出績效衡量指標之研究，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
詹偉順，1997，晶圓製造廠生產績效指標關係模式之構建，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
蘇仁傑，1999，考慮再回流製程之派工法則，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
電子時報，2000，半導體趨勢圖示，台北：聯經出版事業股份有限公司。
張俊彥，鄭晃忠，1997，積體電路製程及設備技術手冊，台北：中華民國產業科技發展協進會。
二、英文部份
Adachi, T., C. L. Moodie, and J. J. Talavang. 1995. A pattern-recognition-based method for controling a multi-loop production system. International Journal Production Research Vol.26 No.12: 1943-1957.
Atherton, L. F., and R. W. Atherton. 1995. Wafer fabrication: factory performance and analysis. Kluwer Academic Publishers: 209-243.
Benson, R. F., S. P. Conningham, and R. C. Leachman. 1995. Benchmarking manufacturing performance in semiconductor industry. Production and Operations Management Vol.38 No.3 (Summer): 201-216.
Bauer, A., R. Bowden, J. Browne, J. Duggan, and G.Lyous. 1991. Shop Floor Control Systems. Chapman & Hall.
Chen, Y. J., Y. J. Su, M. S. Hong, and I. Wang. 2000. Real-time dispatching reduces cycle time. Semiconductor International (March): 109-111.
Chu, K. F., and H. Yan. 1999. Efficient setup/ dispatching policies in a semiconductor manufacturing facility. Proceedings of the 38th Conference on Decision & Control: 1368-1373.
Demeester, L., and C. S. Tang. 1996. Reducing cycle time at an IBM wafer fabrication facility. Interfaces Vol.26 No2: 39-49.
Ehteshami, B., G. P. Raja, and M. S. Phyllis. 1992. Trade-offs in cycle time management: hot lots. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.5 No.2 (May): 101-105.
Foelwr, J. W., D. T. Phillips, and G. L. Hogg. 1992. Real-time control of multiproduct bulk-service semiconductor manufacturing process. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. Vol.5. No.2 (May): 158-163.
Gering, M. 1999. Activity based costing and performance improvement. Management Accounting (March): 24-25.
Leachman, R. C., D. A. Hodges, and Fellow. 1996. Benchmarking semiconductor manufacturing. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.9 No.2 (May): 158-169.
Martin, D. P. 1999. Total operational efficiency (TOE): the determination of capacity and cycle time components and their relationship to productivity improvements in a semiconductor manufacturing line. IEEE/SEMI advanced Semiconductor Manufacturing Conference: 37-41.
Narahari, Y., and L. M. Khan. 1997. Modeling the effevtof hot lots in semiconductor manufacturing system. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.10 No.1 (February): 185-188.
Page, M. 1996. The free factory: cutting cycle time and gaining output. IEEE/SEMI advanced Semiconductor Manufacturing Conference: 146-150.
Vadgama, A., and W. Trybula. 1996. Activity based enterprise analysis through modeling. IEEE/CPMT Electronics Manufacturing Technology Symposium: 123-129.
Yan, H., S. Lou, S. Sethi, A. Gardel, and P. Deosthali. 1996. Testing the robustness of two-Boundary control policies in semiconductor manufacturing. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.9 No.2 (May): 285-288.
描述 碩士
國立政治大學
會計學系
資料來源 http://thesis.lib.nccu.edu.tw/record/#A2002001376
資料類型 thesis
dc.contributor.advisor 吳安妮zh_TW
dc.contributor.advisor Ann Wuen_US
dc.contributor.author (Authors) 龔志忠zh_TW
dc.contributor.author (Authors) Kung, Chih-Chungen_US
dc.creator (作者) 龔志忠zh_TW
dc.creator (作者) Kung, Chih-Chungen_US
dc.date (日期) 2001en_US
dc.date.accessioned 15-Apr-2016 16:11:05 (UTC+8)-
dc.date.available 15-Apr-2016 16:11:05 (UTC+8)-
dc.date.issued (上傳時間) 15-Apr-2016 16:11:05 (UTC+8)-
dc.identifier (Other Identifiers) A2002001376en_US
dc.identifier.uri (URI) http://nccur.lib.nccu.edu.tw/handle/140.119/85163-
dc.description (描述) 碩士zh_TW
dc.description (描述) 國立政治大學zh_TW
dc.description (描述) 會計學系zh_TW
dc.description.abstract (摘要) 對晶圓代工產業而言：生產的彈性及穩定的高良率是競爭優勢之所在，為維持這兩項核心能力，企業必須持續改進製程以提高生產績效。Vadgama, Trybula (1996)曾對晶圓廠生產績效之改善提出建議方案：作者認為將模型工具與作業制成本制整合的管理方式，可辨認出對生產績效具有重大影響的生產區域，再以作業分析找出影響因素並提出相對應的解決方案，進而達到持續改善的目標。zh_TW
dc.description.tableofcontents 封面頁
證明書
致謝詞
論文摘要
目錄
表目錄
圖目錄
第一章 緒論
第一節 研究背景與研究動機
第二節 研究目的暨研究問題
第三節 研究方法
第四節 研究貢獻
第五節 論文架構
第二章 文獻探討
第一節 生產績效衡量指標相關文獻
第二節 影響半導體業生產績效之相關文獻
第三節 研究延伸
第三章 個案公司簡介
第一節 半導體產業介紹
第二節 敘述個案公司背景資料
第三節 介紹個案公司生產製造流程
第四節 簡介個案公司ABC制度與資訊系統
第四章 研究方法
第一節 觀念性架構
第二節 研究設計
第三節 研究假說
第四節 變數衡量
第五節 資料蒐集
第六節 實證模型
第七節 資料分析方法
第五章 實證研究結果
第一節 基本資料分析
第二節 迴歸分析結果
第六章 結論與建議
第一節 研究結論
第二節 研究限制
第三節 建議與未來研究方向
參考文獻		zh_TW
dc.source.uri (資料來源) http://thesis.lib.nccu.edu.tw/record/#A2002001376en_US
dc.subject (關鍵詞) 生產績效zh_TW
dc.subject (關鍵詞) 晶圓製造zh_TW
dc.subject (關鍵詞) 作業制成本制zh_TW
dc.subject (關鍵詞) 半導體產業zh_TW
dc.subject (關鍵詞) manufacturing performanceen_US
dc.subject (關鍵詞) wafer productionen_US
dc.subject (關鍵詞) activity based costingen_US
dc.subject (關鍵詞) semiconductoren_US
dc.title (題名) 半導體業生產績效作業層面影響因素之實地實證研究zh_TW
dc.type (資料類型) thesisen_US
dc.relation.reference (參考文獻) 一、中文部份
中華開發工業銀行，2000，2000年重點產業景氣預測（Π）：72-79.。
史帝文生（Stevenson, W. J.），1999，生產管理，傅和彥譯，台北：前程企業管理有限公司。
李惠娟，2000，半導體產業設備產能使用效率影響因素之實證研究，國立政治大學會計研究所未出版碩士論文。
周文賢，多變量統計分析：SAS/STAT使用方法，待出版書稿。
科普朗與庫柏（Kaplan, R. S., and R. Cooper），2000，成本與效應：以整合性成本制度提昇獲利與績效，徐曉慧譯，台北：臉譜。
黃俊穎，1999，晶圓製造廠因應產品組合更動之快速生產規劃機制，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
簡煌煜，1997，產出績效衡量指標之研究，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
詹偉順，1997，晶圓製造廠生產績效指標關係模式之構建，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
蘇仁傑，1999，考慮再回流製程之派工法則，國立交通大學工業工程與管理研究所未出版碩士論文。
電子時報，2000，半導體趨勢圖示，台北：聯經出版事業股份有限公司。
張俊彥，鄭晃忠，1997，積體電路製程及設備技術手冊，台北：中華民國產業科技發展協進會。
二、英文部份
Adachi, T., C. L. Moodie, and J. J. Talavang. 1995. A pattern-recognition-based method for controling a multi-loop production system. International Journal Production Research Vol.26 No.12: 1943-1957.
Atherton, L. F., and R. W. Atherton. 1995. Wafer fabrication: factory performance and analysis. Kluwer Academic Publishers: 209-243.
Benson, R. F., S. P. Conningham, and R. C. Leachman. 1995. Benchmarking manufacturing performance in semiconductor industry. Production and Operations Management Vol.38 No.3 (Summer): 201-216.
Bauer, A., R. Bowden, J. Browne, J. Duggan, and G.Lyous. 1991. Shop Floor Control Systems. Chapman & Hall.
Chen, Y. J., Y. J. Su, M. S. Hong, and I. Wang. 2000. Real-time dispatching reduces cycle time. Semiconductor International (March): 109-111.
Chu, K. F., and H. Yan. 1999. Efficient setup/ dispatching policies in a semiconductor manufacturing facility. Proceedings of the 38th Conference on Decision & Control: 1368-1373.
Demeester, L., and C. S. Tang. 1996. Reducing cycle time at an IBM wafer fabrication facility. Interfaces Vol.26 No2: 39-49.
Ehteshami, B., G. P. Raja, and M. S. Phyllis. 1992. Trade-offs in cycle time management: hot lots. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.5 No.2 (May): 101-105.
Foelwr, J. W., D. T. Phillips, and G. L. Hogg. 1992. Real-time control of multiproduct bulk-service semiconductor manufacturing process. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. Vol.5. No.2 (May): 158-163.
Gering, M. 1999. Activity based costing and performance improvement. Management Accounting (March): 24-25.
Leachman, R. C., D. A. Hodges, and Fellow. 1996. Benchmarking semiconductor manufacturing. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.9 No.2 (May): 158-169.
Martin, D. P. 1999. Total operational efficiency (TOE): the determination of capacity and cycle time components and their relationship to productivity improvements in a semiconductor manufacturing line. IEEE/SEMI advanced Semiconductor Manufacturing Conference: 37-41.
Narahari, Y., and L. M. Khan. 1997. Modeling the effevtof hot lots in semiconductor manufacturing system. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.10 No.1 (February): 185-188.
Page, M. 1996. The free factory: cutting cycle time and gaining output. IEEE/SEMI advanced Semiconductor Manufacturing Conference: 146-150.
Vadgama, A., and W. Trybula. 1996. Activity based enterprise analysis through modeling. IEEE/CPMT Electronics Manufacturing Technology Symposium: 123-129.
Yan, H., S. Lou, S. Sethi, A. Gardel, and P. Deosthali. 1996. Testing the robustness of two-Boundary control policies in semiconductor manufacturing. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.9 No.2 (May): 285-288.		zh_TW